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形態観察

  1. 形態観察

AFM(原子間力顕微鏡/Atomic Force Microscope)

先鋭なプローブで試料の表面をトレースし、その際に働く力(引力又は斥力)を検知することで、試料表面の微細な構造を観察する装置です。SEM(走査電子顕微鏡)よりも詳細な分析が可能です。

試験項目:高さ像、位相(硬さ)像、表面粗さ(RMS)像 など
  • ガス物質及び揮発性物質用Ames試験
    アサイラムテクノロジー社製 MFP-3D-SA-J 原子間力プローブ顕微鏡システム
分析事例:カーボンブラックの分散性評価
  • 走査電子顕微鏡(SEM)
    図1 カーボンブラック(HAF)
  • 原子間力顕微鏡(AFM)
     図2 カーボンブラック(MT)

カーボンブラックの分散性や凝集体の有無を評価することができます。