業務案内

  1. Home
  2. 業務案内
  3. 材料・素材（ゴム・プラスチック等）
  4. 形態観察
  5. FE-SEM

形態観察

  1. 形態観察

FE-SEM（電界放出形走査電子顕微鏡/Field Emission Scanning Electron Microscope）

電子電界放出を利用した、微細に絞った輝度の極めて高い電子線により試料表面を走査し、試料から発生する二次電子や反射電子などを検出することで、試料形態を高解像度、高倍率（〜650,000倍）で観察することができる装置です。

  • ガス物質及び揮発性物質用Ames試験
    日本電子製　JSM-6701F 電界放出形走査電子顕微鏡
観察例：カーボンブラックの形態観察（図1）、中空糸膜の形態観察（図2）
  • 走査電子顕微鏡（SEM）
    加速電圧2.0kV　50,000倍
    図1 カーボンブラック(FT)
  • 原子間力顕微鏡（AFM）
    加速電圧2.0kV　50,000倍
    図2 中空糸膜（Osコーティング有り）