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形態観察

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FE-SEM(電界放出形走査電子顕微鏡/Field Emission Scanning Electron Microscope)

電子電界放出を利用した、微細に絞った輝度の極めて高い電子線により試料表面を走査し、試料から発生する二次電子や反射電子などを検出することで、試料形態を高解像度、高倍率(〜650,000倍)で観察することができる装置です。

  • ガス物質及び揮発性物質用Ames試験
    日本電子製 JSM-6701F 電界放出形走査電子顕微鏡
観察例:カーボンブラックの形態観察(図1)、中空糸膜の形態観察(図2)
  • 走査電子顕微鏡(SEM)
    加速電圧2.0kV 50,000倍
    図1 カーボンブラック(FT)
  • 原子間力顕微鏡(AFM)
    加速電圧2.0kV 50,000倍
    図2 中空糸膜(Osコーティング有り)