業務案内

1. 電気的物性

比誘電率及び誘電正接試験

　誘電材料の誘電特性（比誘電率及び誘電正接）の評価を行います。

・概要

誘電率（比誘電率）は物質の分極のしやすさ、すなわち電荷を蓄えられる性能の指標で、誘電材料の電気的特性を表す一つとなります。例えば、コンデンサでは高誘電率の材料、絶縁部品では低誘電率の材料の使用が求められます。誘電正接（誘電損失）は物質内部の電気エネルギー損失度合いを表す指標であり、コンデンサや絶縁部品に用いられる材料では低誘電正接であることが求められます。CERIではインピーダンス測定器を使用した平行板法によって測定します。

・試験詳細

＜対応規格＞
・JIS C 2138「電気絶縁材料−比誘電率及び誘電正接の測定方法」
・ASTM D 150「Standard Test Methods for AC Loss Characteristics and Permittivity (Dielectric Constant) of Solid Electrical Insulation」

　2つの電極間に測定対象を挟むことでキャパシタを形成します。測定周波数の交流信号を印加し、容量や損失のベクトル成分を測定することで誘電率や誘電正接を算出します。

・試験機仕様

試験機名称　　　　　：Keysight Technologies Inc.製　E4990A Impedance Analyzer
　　　　　　　　　　（測定方式　自動平衡ブリッジ法）
電極装置　　　　　　：Keysight Technologies Inc.製　16451B Dielectric Test Fixture
【測定範囲（参考）*】
周波数　　　　　　　：20 Hz 〜 10 MHz (周波数掃引)
誘電率（比誘電率）　：1 〜 200
誘電正接　　　　　　：0.000001 〜 9.99999
温度/湿度　　　　 　：0 ℃ 〜 55 ℃ / ≦95 %RH(40 ℃)
*主電極Aの場合。測定条件によって変わります。

【推奨の試験片形状及び測定方法】

使用主電極	主電極直径	試験片直径	試験片厚さ	測定方法
A	Φ38 mm	Φ40 mm 〜 56 mm	≦10 mm	電極接触法(金属板電極) 又は電極非接触法
B	Φ5 mm	Φ10 mm 〜 56 mm
C	Φ5 mm 〜 50 mm*	Φ56 mm		電極接触法(薄膜電極)
D	Φ5 mm 〜 14 mm*	Φ20 mm 〜 56 mm

*薄膜電極直径
電極接触法(金属板電極)：金属板電極を直接試験片表面に接触させて測定します。
電極接触法(薄膜電極)：試験片表面に薄膜電極を形成し、電極を薄膜と接触させて測定します。
電極非接触法：電極間に試料を挿入した場合と挿入しない場合を測定し、算出します。

 

図1 試験機外観	図2 電極形状(左より電極A, B, C, D)

　その他、お客様のご要望に応じて試験規格とは異なる条件での評価も可能です。また、原材料からの試験片成形、製品試料から切削加工による試験片作製も対応しています。
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