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材料物性

  1. 電気的物性

抵抗特性試験 − 平行端子電極法(四端子法)

半導体領域(10-1〜108 Ω)の材料における電気の通しにくさ(電気抵抗)を評価します。
(半導体〜絶縁体は二重リング電極法、導体〜半導体は4探針電極法を参照)

・概要

 導電率が高く、二端子法では接触抵抗など界面の影響を受ける材料の測定に適する四端子法を用いた測定方法です。材料の両端に電流(導入)電極、中央部に電位差(測定)電極を設置し、電流と電圧を測定します。電流及び電圧、試料寸法から抵抗率を求めます。

・試験詳細

<対応規格>
・SRIS 2301「導電性ゴムおよびプラスチックの体積抵抗率試験方法」
・ASTM D 991「Standard Test Method for Rubber Property-Volume Resistivity Of Electrically Conductive and Antistatic Products」

<試験概要(SRIS 2301)>
 短冊状試験片の両端に電流電極が平行になるように設置し、電流の流れに直角になるように電位差電極を平行に設置します。通電開始より1分間経過後の電位差を測定します。得られた電位差から次の計算式により体積抵抗率を算出します。

体積抵抗率 ρ(Ω・m)
  R:実測抵抗値(Ω) E:電圧電極にかかる電圧(V) I:試験片中を流れる電流(A)
L:電圧電極間の幅(cm) A:試験片の断面積(cm2)
W:試験片の幅(cm) T:試験片の厚さ(cm)
・試験機仕様

電位差電極間距離 :60 mm(固定)
電流電極間距離  :100 mm(固定)
通電電流     :10 nA 〜 100 mA

図1 試験機外観 図2 電極装置外観
図1 試験機外観 図2 電極装置外観

 

 その他、お客様のご要望に応じて試験規格とは異なる条件での評価も可能です。また、原材料からの試験片成形、製品試料から切削加工による試験片作製も対応しています。下記の問合せフォーム又は連絡先までお気軽にご連絡ください。

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(大阪事業所 技術第一課)