業務案内

1. 寸法測定
2. 変形解析
3. 画像寸法測定
4. 共焦点レーザー顕微鏡による表面粗さ測定

DIC計測装置による各種ひずみ測定(変形解析)

概要　

　DIC計測装置(DIC:デジタル画像相関法)は、対象物に力を加えた際に生ずるひずみ量を3次元測定できるシステムです。時系列での測定が可能なため、動的な変位・変形挙動を明確に解析できます。得られた結果より、既存製品及び試作品の変形特性評価、シミュレーション結果のバリデーション、単一材料製品の応力分布(応力集中箇所)解析など多くの製品評価に応用できます。

システム外観

解析例

【動的オゾン(JIS K 6259-1)を模擬した繰返し10％伸張時における永久伸びについて】
JIS K 6259-1の動的オゾン劣化試験では、初期のひずみ率0％〜10％で繰返し伸張させますが、試験終了時はサンプルの永久伸びのため、引張ひずみ率が10％より低下していると考えられます。
そこで、どの程度低下しているか確認するため、疲労試験機と組み合わせ、1000回繰返し伸張前後でのひずみ率の変化を測定しました(JIS標準配合IR, 繰返し伸張時の温度：23℃)。

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  図1　繰返し伸張前ひずみ分布

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  図2　繰返し伸張後ひずみ分布

※1と※2が示しているように繰返し伸張後は、ひずみ率は10％から9％程度まで低下していることがわかります。

【ポアソン比測定】
ポアソン比測定も実施しております。万能試験機の荷重, 変位データと同期することも可能です。
→解析動画サンプル（aviファイル）