業務案内

1. 概要
2. イメージングIR
3. レーザーラマン分光分析
4. EPMA
5. SEM-EDX

表面分析・局所分析

　高分子材料の変色や接着低下、剥離などの不具合は表面や界面で起こる現象です。また、高分子材料の劣化は、基本的に熱・光などの外的因子の影響で表面から内部へと進行するため材料の表面状態を把握することは劣化挙動を知るうえで重要です。また、工業製品を構成する部品は、単一材料だけでなく、表面処理品、積層膜などの複合材料が多く用いられています。そのため、高分子材料だけではなく金属やガラスなど表面、局所分析が多岐にわたる分野で用いられています。
　以下の装置により、固体材料表面、界面、局所の形態、構成元素、元素組成、元素分布、元素の結合状態、モルホロジー、粘弾性特性などを評価することが可能です。

• X線光電子分光装置(XPS、ESCA)
• フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR)
• イメージングIR
• レーザーラマン分光分析
• 電子線プローブマイクロアナライザー(EPMA)
• 走査電子顕微鏡−エネルギー分散型X線分析装置(SEM-EDX)
• 原子間力顕微鏡(AFM)

表面・局所分析例

• 表面におけるゴム・プラスチック材料の劣化解析
• 表面付着物の分析
• 各種表面処理を施した試料の評価
• 変色・着色原因の調査
• 接着不良原因の調査
• 金属の表面酸化膜の評価
• 金属の腐食状態の調査
• ブレンドポリマーのモルホロジー

表面や界面などの形態観察はこちら

問合せ先

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