分光老化試験(分光劣化試験)

キセノン光源の光を分光器で波長ごとに分け、単一波長に近い光を試料に照射する装置です。劣化に寄与する波長域を特定でき、促進耐候性試験の条件設定や屋外で生じた変色・劣化の原因究明に活用できます。ゴム・プラスチックの固体だけでなく、粉体や液体にも対応します。


分光分布が太陽光に近似したキセノンランプを光源とし、回折格子を用いて波長別に分光します。紫外から可視の強力な光を試料に照射し、試料の劣化に関与する波長の光を特定することが可能です。
ゴム・プラスチックなどの固体試料だけでなく、粉体や液体についても評価することができます。

装置

仕様

型式SPX (スガ試験機株式会社)
光源300 W空冷式
キセノンショートアークランプ
照射波長範囲220 nm~520 nm, 400 nm~700 nm
照射面積幅160 mm×高さ17 mm
分解能約2 nm/mm (スリット幅1 mmにおいて)
スリット幅1 mm~10 mm

照射例

試験・評価例

ポリスチレン

270 nmから320 nmの範囲の光で黄変することがわかります。

着色した水

220 nmから320 nmと370 nmから490 nmの範囲の光で退色することがわかります。

担当部門:高分子技術部門

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