香粧品の構造評価

化粧品の特性を生む内部構造を、外観・物性との相関から評価します。粘度測定・動的粘弾性測定や、X線回折・小角X線散乱(SAXS)によるラメラゲルネットワークの構造解析に対応。放射光施設を活用した高度な測定も可能です。


香粧品の特性がどのような構造によって発現しているかを理解することは、製品開発において重要です。CERIでは、外観・物性と構造の相関を解明するための評価を受託しています。多面的な分析により香粧品の製品開発をサポートいたします。

項目受託内容
形態観察偏光顕微鏡、レーザー顕微鏡 など
機械物性粘度測定、動的粘弾性測定 など
ラメラ・結晶構造解析X線回折(XRD)、小角X線散乱(SAXS)

香粧品のテクスチャー評価

ハンドクリームは、保管時にはやわらかすぎず、肌にのせた際にはスムーズに伸びることが望まれ、この物性が使用感に大きく影響します。温度を変えながら粘度を測定することで、保管環境から人肌温度に至るまでの粘度変化を定量的に評価することができます。

X線散乱による香粧品のラメラゲルネットワークの構造評価

ラメラゲルネットワークとは、両親媒性物質が親水部と疎水部を並べて交互に規則正しく重なった二分子膜構造を形成し、この構造が相互に強固なネットワーク構造を形成したものです。このような構造により、親水部の層間に多くの水分を安定に保持できるため、ラメラゲルネットワーク構造は保湿機能を持つスキンケア香粧品などに広く利用されています。香粧品としての利用には、水分保持機能だけではなく、使用時のたれ性、皮膚上での伸び性など、使用時に扱いやすい機能も重要です。

ラメラ構造の模式図

小角X線散乱法による香粧品中のラメラ構造の評価事例を以下に示します。乳液とシャンプーの2種類の試料に対して、小角X線散乱法を適用しました。2次元X線散乱像から、香粧品中の構造に由来する周期的な散乱強度の増減が見られました。得られた2次元X線散乱像の円環平均を取ることによって、1次元のX線散乱プロファイルを得ました。ピークの位置から、これらのピークはラメラ構造に由来するものであることがわかり、乳液試料では繰り返し距離が5.4 nmと18.4 nmの2種類のラメラ構造が、シャンプー試料では繰り返し距離が7.6 nmの1種類のラメラ構造が存在していることがわかりました。

小角X線散乱測定の模式図
2次元X線散乱像
円環平均による1次元X線散乱プロファイル

ラボ用のX線散乱装置では評価の難しいサンプルについても、放射光施設の産業利用枠を必要に応じて活用して放射光X線を利用した質の高い散乱像を得ることによって、多様な解析を可能にします。放射光施設を利用した測定では、高輝度X線を活かした温度可変測定、時分割測定などのアドバンスドな測定が可能です。材料内部構造の変化をリアルタイムかつ高精度に評価でき、基礎研究から製品開発まで幅広く活用いただけます。また、散乱プロファイルのモデル式へのフィッティングなど、解析のみのご相談にも対応します。

リーフレット

タイトル測定法サムネイル
香粧品の構造解析小角X線散乱法

問い合わせ先

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電話でのお問い合わせ
0480-37-2601 (東京事業所 高分子技術部門)
052-761-1185 (名古屋事業所)
06-6744-2022 (大阪事業所)

担当部門:高分子技術部門

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