形態観察（SEM、FE-SEM）

FE-SEM（電界放出形走査電子顕微鏡/Field Emission Scanning Electron Microscope）

電子電界放出を利用した、微細に絞った輝度の極めて高い電子線により試料表面を走査し、試料から発生する二次電子や反射電子などを検出することで、試料形態を高解像度、高倍率（～650,000倍）で観察することができる装置です。

観察例：カーボンブラックの形態観察（図1）、中空糸膜の形態観察（図2）