シリコーンゴムはシロキサン結合（Si-O）を骨格とするゴム材料であり、炭化水素系ポリマーと比較して耐熱性、耐オゾン性に優れる材料です。また、シリコーンゴムは不導体でもあることから、電子機器のシール材としても利用されていますが、シリコーンゴム中から揮発した環状シロキサン（Dn）が電気接点において付着後、電気スパークにより酸化分解してシリカ（SiO2）へと変化することで接点不良を引き起こすことがあります。当機構ではシリコーンゴム中に残存する環状シロキサン（D3～D20）について定量分析を実施しています。
（関連規格：ASTM F2466 Standard Practice for Determining Silicone Volatiles in Silicone Rubber for Transportation Applications）
環状シロキサンの4量体(D4)、5量体（D5）、6量体（D6）についてはREACH規則の第19次SVHCとしても指定されています。D4からD6の含有量分析も承っています。
また、シリコーンゴム部品を含む製造工程の温度管理や、製品使用時における環状シロキサン発生量の推測等に活用できるように、熱脱着-ガスクロマトグラフ質量分析計（TD-GC/MS）等を用い、使用環境等の任意温度で発生する環状シロキサンの定量分析も実施しています。まずはお問い合わせください。
