イメージングIR分析
詳細を見る赤外吸収の二次元分布から、層構造や深さ方向の劣化状態を可視化します
面内の赤外吸収スペクトルを一度に取得し、官能基の二次元分布を可視化します。積層フィルムの層構造解析や、表面異物の非破壊分析に有効です。ATR法では数μmの分解能で、酸化劣化の深さ方向の評価も行えます。
レーザーラマン分光分析
詳細を見る非破壊・前処理不要で、異物同定や多層膜の成分分布を解析します
試料にレーザーを照射して生じるラマン線から、化学構造や結晶性を調べます。前処理がほぼ不要で非破壊、水溶液やビン・フィルム越しの測定、μmオーダーの精密マッピングが可能です。異物同定や多層膜の成分同定、劣化・結晶状態の観察に対応します。
XPS分析
詳細を見る表面数nmの元素組成と化学結合状態から、微量な劣化構造を解析します
X線光電子分光法（XPS）で、表面から深さ数nmの元素組成と化学結合状態を解析します。イオンエッチングとの組合せで数百nmまでのデプスプロファイルも取得可能です。FT-IRでは捉えられない微量な劣化構造も高感度に検出できます。
化学物質の試験・評価で
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