電気特性試験

材料の電気の通しにくさ（抵抗率）を測定します

材料に電圧や電流を印加し、得られた電気特性値から抵抗率を求めます。材料の導電性に応じて複数の測定手法を使い分け、導体から絶縁体まで幅広い材料に対応します。

2本のテーパーピン電極間に流れる電流に対する比である抵抗を測定します

電極間に印加した直流電圧と電極間に流れる電流に対する比である抵抗を求めます。絶縁抵抗は試験片の体積抵抗および表面抵抗の両方を含んでいます。JIS K6911やJIS C2139-3-3に対応し、試験片作製に対応します。

絶縁材料がどこまでの電圧に耐えられるか（絶縁耐力）を評価します

絶縁材料に電圧を印加し、絶縁破壊が生じる電圧や耐えうる電圧から絶縁耐力（kV/mm）を求めます。短時間・段階昇圧・耐電圧の各試験に対応し、最大100kV、室温〜200℃、各種媒質で評価。JIS C2110やASTM D149に準拠します。

絶縁材料の表面がアーク放電で損傷する耐久性（耐アーク性）を評価します

試験片をアーク放電にさらし、段階的に過酷度を上げながら破損までの時間を測定します。熱分解や炭化による導電路の形成しにくさを評価。JIS C2135（IEC 61621）やASTM D495に準拠します。

絶縁材料表面の炭化導電路（トラック）の形成しにくさを評価します

電圧をかけた試験片に電解液を滴下し、微小放電による炭化導電路の形成（トラッキング）への耐久性を評価します。保証トラッキング指数（PTI）や比較トラッキング指数（CTI）を測定し、JIS C2134（IEC 60112）に準拠します。

材料の電荷の蓄えやすさ（誘電率）とエネルギー損失（誘電正接）を測定します

2つの電極で試料を挟んでキャパシタを形成し、交流信号を印加して比誘電率と誘電正接を求めます（平行板法）。コンデンサや絶縁部品の材料選定に活用でき、20Hz〜10MHzの周波数掃引に対応。JIS C 2139-2-1・ASTM D150に準拠します。

材料に帯びた静電気の逃げやすさ（減衰特性）を評価します

コロナ放電で試料に電荷を与え、照射停止後の電荷が半分に減衰するまでの時間（半減期）を測定します。静電気の逃げやすさを比較評価でき、JIS L1094 A法（半減期測定法）に準拠します。

材料を摩擦したときの静電気の溜まりやすさ（帯電圧）を評価します

回転ドラムに取り付けた試験片を摩擦布でこすり、発生した静電気の帯電圧を測定します。摩擦による静電気の起こりやすさを評価でき、JIS L1094 B法（摩擦帯電圧測定法）に準拠します。

絶縁油など液体・半固体材料の抵抗・絶縁破壊・誘電特性を評価します

絶縁油などの液体・半固体を対象に、体積抵抗率、絶縁破壊電圧、比誘電率・誘電正接を測定します。専用の液体用電極を用い、JIS C2101（電気絶縁油試験方法）やJIS C2138に準拠して評価します。